Seite - 312 - in Aufklärung der Struktur von Metallclusterionen in der Gasphase mittels Elektronenbeugung

312 Anhang C: Einfluss der Fallengeometrie auf große Streuwinkel rer Graph) zeigt jedoch auch für d = 1,5mm, unter deren Anordnung die in dieser Arbeit erzeugten Beugungsdaten erhoben wurden, einen geringfügigen Teil geblockter Streu- elektronen (ca. 3%, blaue Kurve). Eine Verkleinerung der Apertur auf d = 0,5mm führt sogar zu einem Verlust von 64% (rote Kurve). Gegenüber der Gesamtstreuintensität ergibt sich ein mit s zunehmender relativer Fehler des detektierten Signals (unterer Graph, blaue Kurve). Ein signifikanter Anteil wird ab ca. s = 5Å-1 erreicht. In den durchgeführten Anpassungen kann dadurch bedingt eine mit s wachsende Hintergrunds- funktion beobachtet werden (siehe Abbildung 14, Seite 33). Da dieser mathematische Ausdruck zur Beschreibung anderer physikalischer Effekte eingeführt ist, wird nicht immer eine optimale Anpassungsfähigkeit gewährleistet. Aus diesem Grund – und mit Hilfe der simulierten Daten – ist eine Optimierung der Fitprozedur möglich. Die intrin- sische Abschattung der Beugungsdaten kann so unter Verwendung einer vermessenen Transferfunktion (z.B. Fehlerfunktion) korrigiert werden. Abbildung 214: links – Mit TPD26 simulierte Endkappengeometrien mit unterschiedlichen Öff- nungsgrößen d. Von der Gesamtstreuintensität I des Clusters Cu55− trifft zu größeren Streuwin- keln ein zunehmender Anteil Elektronen die Elektroden und wird nicht detektiert (Abschat- tung). Der Verlauf der auf I normierten Fraktion ist eine Fehlerfunktion. rechts – Schema der Beeinflussung der detektierbaren Beugungswinkel aufgrund der Paulfallenelektroden (grau) bei Streuung in Randbereichen der Überlappung von Clusterionenwolke (schwarz) und Elektronen- strahl (rot). 0 2x105 4x105 6x105 8x105 1x106 0 1x104 2x104 3x104 4x104 5x104 0 50 100 150 200 250 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 no diaphragma d = 0.5 mm d = 1.5 mm d = 3.0 mm Cu55 − Abstand r (Pixel) ohne Endkappen d = 3,0mm 1,5 m 0,5 m Endkappenöffnung d