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60 4. SYSTEMTECHNIKUNDVERSUCHSAUFBAU Abbildung 4.6:Verteilung der spektralenEnergiedichte eines schwarzen, grauen und realen Strahlers nach [82]. 0,8µmbis 12µmvonBedeutung. EineUnterteilung erfolgt in die drei folgendenBereiche, wie diese auch inAbbildung 4.4 zu sehen sind ([98]; [99]): • 0,8 bis 2µm:Kurzwellen-Infrarot (SWIR, engl. shortwave infrared) • 2 bis 5µm:Mittelwellen-Infrarot (MWIR, engl.middlewave infrared) • 8 bis 12µm:Langwellen-Infrarot (LWIR, engl. longwave infrared) Für die Auswahl des richtigen Messbereiches in der praktischen Anwendung sind imWesentlichen folgende beidenMerkmale zu unterscheiden ([98]; [99]): Mittelwellen-Infrarot: • Dunkle und helleNichtmetalle haben nahezu identischeEmissionsgrade. • FarblicheUnterschiede haben somit keinen bedeutendenEinfluss auf dasMessergebnis. Langwellen-Infrarot: • Dunkle und helleNichtmetalle haben deutlichenEinfluss auf denEmissionsgrade. • Somit ist der Einfluss auf dasMessergebnis bei farblichenUnterschieden deutlich. Bei derMessaufgabe ist neben dem erfassten Spektralbereich vor allem auf den Emissionskoeffizient und dessen Einflussfaktoren zu achten. Diese sind bedeutend für die Qualität einerMessung, aber auch für die richtige Interpretation imAnschluss. Hierzu zählen dieOberflächenbeschaffenheit, wie etwa dieRauheit undBeschichtung desMessobjek- tes, derBetrachtungswinkel, dieMessstrecke und die Störstrahlung. NebendenÜberlegungenzurStrahlungsintensität,demMessbereichunddenStörgrößensinddiepho- tometrischenRahmenbedingungenzubeachten,diedenBetrachtungswinkelunddieminimalewieauch maximale Entfernung desDetektors vomMessobjekt beschreibt.Wird vereinfacht einLambert‘scher Strahler verwendet, so gilt nach [98] folgendes photometrischesGrundgesetz: Θ =L ·AE ·cos E ·AS ·cos S r2 ·Ω0 (4.14)